Scanner Kecil Manfaat Besar
Sistem Mikroradiografi Sinar-X untuk Inspeksi Obyek Mikrostruktur
Deskripsi Singkat
Teknologi non-destructive inspection biasanya dilakukan untuk memonitor kualitas produksi dan pemeliharaan produk dalam industri manufaktur untuk kepentingan investigasi. Salah satu metode untuk inspeksi ini adalah dengan menggunakan radiografi sinar-X.
Untuk inspeksi objek mikrostruktur yang berukuran antara 5-30 mm misalnya komponen elektronik, diperlukan teknologi radiografi sinar-X yang telah disesuaikan. Mikroradiografi sinar-X dapat menginspeksi objek-objek tersebut dan menghasilkan citra digital 2D yang dapat ditingkatkan menjadi citra 3D. Proses inspeksi dengan alat ini berjalan secara aman, berkesinambungan, dan real time.
Small Scanner, Big Benefit
Short Description
The manufacturing industry utilizes the non-destructive inspection technology to monitor the quality of products and its maintenance. X-ray radiography is one of the methods of inspection. An adjusted x-ray radiography is needed to inspect microstructures (5-30 mm) such as electronic components. With this X-ray microradiography system, objects are inspected by turning 2-D digital image into 3-D. This inspection process can be done safely, continuously, and in real-time.
Perspektif
Mikroradiografi sinar-X dapat sangat membantu dalam menghasilkan output yang semakin akurat dan teliti dalam kegiatan inspeksi.
Keunggulan Inovasi:
- Dimensi dan kualitas citra hasil mikroradiografi digital yang baik untuk obyek berukuran 5-30 mm,
dengan resolusi minimal 768x576 - Fully customized, desain dan tampilan sesuai keinginan pengguna berbasis versi generiknya
- Dapat melakukan proses 100% total digital inspection yang terdokumentasi, tertelusur dan sesuai dengan acuan standar
Potensi Aplikasi:
- Investasi yang relatif ekonomis untuk fasilitas kendali mutu produksi karena hampir seluruh bagian alat ini menggunakan konten lokal
- Peningkatan kapabilitas produsen untuk meyakinkan calon buyers atas produk manufaktur yang dihasilkan
- Alternatif inspeksi awal, sebelum menggunakan Scanning Electron Microscopy (SEM) maupun Tunneling Electron Microscopy (TEM) yang sistem dan biaya inspeksinya sangat mahal
Innovator:
Tim Inovasi
Institusi
Alamat
Status Paten
Telah Terdaftar
Kesiapan Inovasi
*** Telah Dikomersialkan
Kerjasama bisnis
*** Terbuka
Peringkat Inovasi
*** Paling Prospektif
File
Tidak ada
Video
Tidak ada