• +6221 4288 5430
  • +62 8118 242 558 (BIC-JKT)
  • +62 8118 242 462 (BIC-INA)
  • info@bic.web.id

Scanner Kecil Manfaat Besar

Sistem Mikroradiografi Sinar-X untuk Inspeksi Obyek Mikrostruktur

Deskripsi Singkat


Teknologi non-destructive inspection biasanya dilakukan untuk memonitor kualitas produksi dan pemeliharaan produk dalam industri manufaktur untuk kepentingan investigasi. Salah satu metode untuk inspeksi ini adalah dengan menggunakan radiografi sinar-X.

Untuk inspeksi objek mikrostruktur yang berukuran antara 5-30 mm misalnya komponen elektronik, diperlukan teknologi radiografi sinar-X yang telah disesuaikan. Mikroradiografi sinar-X dapat menginspeksi objek-objek tersebut dan menghasilkan citra digital 2D yang dapat ditingkatkan menjadi citra 3D. Proses inspeksi dengan alat ini berjalan secara aman, berkesinambungan, dan real time.

Small Scanner, Big Benefit

 

Short Description


The manufacturing industry utilizes the non-destructive inspection technology to monitor the quality of products and its maintenance. X-ray radiography is one of the methods of inspection. An adjusted x-ray radiography is needed to inspect microstructures (5-30 mm) such as electronic components. With this X-ray microradiography system, objects are inspected by turning 2-D digital image into 3-D. This inspection process can be done safely, continuously, and in real-time.


Perspektif

Mikroradiografi sinar-X dapat sangat membantu dalam menghasilkan output yang semakin akurat dan teliti dalam kegiatan inspeksi.

Keunggulan Inovasi:

  • Dimensi dan kualitas citra hasil mikroradiografi digital yang baik untuk obyek berukuran 5-30 mm,
    dengan resolusi minimal 768x576 
  • Fully customized, desain dan tampilan sesuai keinginan pengguna berbasis versi generiknya 
  • Dapat melakukan proses 100% total digital inspection yang terdokumentasi, tertelusur dan sesuai dengan acuan standar


Potensi Aplikasi:

  • Investasi yang relatif ekonomis untuk fasilitas kendali mutu produksi karena hampir seluruh bagian alat ini menggunakan konten lokal

  • Peningkatan kapabilitas produsen untuk meyakinkan calon buyers atas produk manufaktur yang dihasilkan

  • Alternatif inspeksi awal, sebelum menggunakan Scanning Electron Microscopy (SEM) maupun Tunneling Electron Microscopy (TEM) yang sistem dan biaya inspeksinya sangat mahal


Innovator:

Tim Inovasi

Dr. Gede Bayu Suparta Andreas C. Louk I Gede Arya Wiguna, S.Si.

Institusi

Jurusan Fisika Fakultas MIPA UGM

Alamat

Jurusan Fisika Fakultas MIPA Universitas Gadjah Mada Sekip MIPA Utara Yogyakarta 55281

Status Paten

Telah Terdaftar

Kesiapan Inovasi

*** Telah Dikomersialkan

Kerjasama bisnis

*** Terbuka

Peringkat Inovasi

*** Paling Prospektif


File

Gambar 2


Video

Tidak ada


Perkembangan Inovasi